数显卡尺内测量爪磨损会直接影响测量结果的准确性，且磨损程度越严重，误差越大。

核心影响原理

  1. 磨损导致贴合度下降：内爪测量面（尤其是爪尖）磨损后会变钝、出现划痕或缺口，无法与被测内孔 / 槽壁完全紧密贴合，形成微小间隙，直接导致测量值偏小。

  2. 接触基准偏移：磨损可能造成两内爪不对称（如一侧磨损更严重）或测量面倾斜，使测量时受力点偏离真实直径 / 槽宽方向，测得 “弦长” 而非 “实际内尺寸”，误差进一步扩大。

  3. 测量稳定性变差：磨损后的爪面接触面积不规则，每次测量的接触状态不同，不仅会导致固定误差，还会让测量值波动（如同一位置多次测量读数差异超过允许范围）。

不同磨损程度的影响

  • 轻度磨损（仅表面细微划痕）：误差较小（通常≤0.01mm），可能在卡尺允许误差范围内，对常规测量影响不大。

  • 中度磨损（爪尖变钝、出现凹陷）：误差可达 0.02-0.05mm，会超出普通数显卡尺的允许误差，导致测量结果失真（如测 50mm 内孔，实际值可能偏小 0.03mm）。

  • 重度磨损（爪尖缺口、变形）：误差可能超过 0.05mm，甚至无法准确贴合被测件，测量结果完全不可靠。