测量内尺寸时,卡尺的量程如何选择
测量内尺寸时,数显卡尺的量程选择需结合被测内尺寸的大小、测量场景的便利性以及精度需求,具体可参考以下原则:
一、核心原则:量程需覆盖被测最大内尺寸
二、结合测量场景选择合适量程(兼顾便利性)
三、附加考量:避免 “量程过大” 导致的问题
总结
选择内尺寸测量的卡尺量程时,以 “被测最大内尺寸 + 10%-20% 余量” 为基准,同时结合操作便利性和成本。日常中小尺寸(≤150mm)优先选 0-150mm 或 0-200mm;中大型尺寸(150-300mm)选 0-300mm;超大尺寸则根据实际需求选择对应量程,确保覆盖尺寸的同时兼顾测量稳定性。
上一条:数显卡尺内尺寸测量的方法是什么