测厚仪的工作原理

测厚仪的工作原理主要包括共振法、干涉法、脉冲反射法、磁感应原理、超声波测厚等。¹²

• 共振法、干涉法和脉冲反射法是测厚仪的几种基本工作原理。共振法通过测量共振频率的变化来确定厚度；干涉法利用光波或声波的干涉现象来测量厚度；脉冲反射法则是通过发射脉冲并测量反射脉冲的时间来确定厚度。

• 磁感应原理应用于手持式测厚仪，特别是磁感应镀层测厚仪和电涡流镀层测厚仪。这种原理通过测量从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，或测定与之对应的磁阻的大小，来表示覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

• 超声波测厚是利用超声波脉冲反射原理进行厚度测量的方法。当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头。通过精确测量超声波在材料中传播的时间，并根据材料的声速来确定被测材料的厚度。这种方法适用于凡能使超声波以恒定速度在其内部传播的各种材料。

• 双晶探头和单晶探头是超声波测厚仪中的两种关键组件。双晶探头由两个独立的晶片组成，成角度放置，用于测量较厚的材料。单晶探头则适用于测量较薄的材料，可能需要使用延迟线来确保测量的准确性。

综上所述，测厚仪的工作原理多样，包括物理现象（如共振、干涉、脉冲反射）、电磁原理（如磁感应）以及声学原理（如超声波测厚），每种原理都有其特定的应用场景和优势。